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激光焊接/打印/熔覆測溫成像:
請使用德國DIAS紅外公司
低價格單色紅外測溫儀DG40N(500~3000°C)
雙色紅外測溫儀DGR10N(300~3750°C)
測溫成像的紅外熱像儀為:
PYROVIEW 768N compact+
測溫成像溫度:800-1800°C及1200-3000°C

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太陽能行業晶體生長用DIAS紅外測溫儀

規格:DG42N , DS42N 等

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性能標簽:

太陽能行業晶體生長用DIAS紅外測溫儀 ,


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產品詳細描述


要生產晶圓,例如要生產太陽能晶圓產品,晶體需要從所謂的晶體生長爐(單晶爐、多晶爐)內的熔液拉出。 

從熔液形成的晶體生長由晶體化的熔液慢慢冷卻形成的。因此,測量熔液的溫度很重要,同樣,測量加熱元件的溫度以準確控制過程也很重要。這二個溫度需要協調好,以確保晶體生長的優化。

德國DIAS紅外測溫儀在太陽能行業的應用

在晶體生長公司生產的晶體是太陽能行業晶圓需要的物件。要保證最優的晶體生長過程,過程中的溫度必須要保證正確無誤。德國DIAS紅外公司生產的PYROSPOT系列紅外測溫儀可以確保實現晶體生長過程中的溫度的準確測量。 

德國DIAS紅外測溫10系列40系列42系列44系列適合這些晶體生長的測溫。主要可用的型號有DS40NDS44NDG42NDS42N,測溫范圍為350~2500°C,均為短波紅外測溫儀。根據晶體生長系統的型號,也可以使用DSR10NDSR44N雙色紅外測溫儀。44系列10系列還可以兼容總線系統,易于集成到現有控制系統中去。

 

Different steps of the crystal growing.
                                 不同的晶體生長步驟
Different steps of the crystal growth.
測量晶體生長過程中的熔化溫度、加熱元件的溫度,可采用DIAS 上述紅外測溫儀

在空間比較狹小的地方,推薦使用光纖紅外測溫儀。比如可以使用DSF40NDSF44N系列,測溫范圍600 ~ 1800 °C ,最小探頭光圈僅僅12 mm。此外,還可以選擇直角鏡或彎曲的光纖電纜。測量光斑僅僅幾個毫米直徑。從而,對這些溫度測量任務,選擇最優的紅外測溫儀光學系數,可以觀測和控制這些晶體生長過程。

更多信息:



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